Atik tès yo enkli: tanperati kritik (Tc), mezire ranje tanperati tranzisyon soti nan eta nòmal la nan eta a superconducting nan materyèl la, ak yon presizyon nan 0.01 K; kritik chan mayetik (Hc), detèmine fòs la minimòm jaden mayetik ki detwi eta a superconducting, ak yon rezolisyon nan 0.001 T; dansite aktyèl kritik (Jc), evalye kapasite maksimòm aktyèl la-pote, ak yon seri erè ki mwens pase oswa egal a 5%; tès rezistans, mezire valè rezistans nan seri 10⁻Ωm; mezi sansiblite mayetik; tès analiz tèmik, detèmine tanperati k ap fonn ak kristalizasyon; ak analiz microstructure, obsève microstructure materyèl la.
Konsènan metòd tès yo, tès rezistans itilize metòd DC kat-sond; mezi kritik aktyèl dansite itilize metòd kat-sond la; mezi sansiblite mayetik konbine espesifikasyon espesifik tès pèfòmans mayetik tanperati ba -; tès analiz tèmik sèvi ak kalorimetri diferansye optik; ak analiz mikwostrikti itilize mikwoskospi elektwonik optik.
Estanda ekipman tès yo mande pou sistèm mezi pwopriyete fizik entegre PPMS pou mezire avèk presizyon rezistivite ak sansiblite mayetik nan seri tanperati 1.9K-400K; se mayetomèt SQUID la ekipe ak yon leman supèrkonduktif 7T, ki kapab mezire bouk isterèz nan jaden mayetik soti nan 0 a 7T; sistèm nan kriyostat bay yon anviwònman tanperati kontinyèlman varyab soti nan 4K a 300K; gwo -presizyon DC ekipman pou pouvwa pwodiksyon aktyèl ki sòti nan 1μA rive 1A ak yon rezolisyon 10fA; difractomètr X-ray yo ekipe ak yon detektè LynxEye ak yon rezolisyon angilè 0.0001; mikwoskòp elektwon optik la gen yon rezolisyon 1nm epi li ekipe ak yon sistèm espektroskopi dispèsyon enèji EDAX; Etap tès kat-sond la sipòte tès tanperati ki ba soti nan 77K a 300K; ak vibre echantiyon mayetomètr la gen yon seri chan mayetik 3T ak yon sansiblite 10⁻⁶emu.
